Ηλεκτρονική Διάθεση Μαθήματος
Περιεχόμενο Μαθήματος
p-n επαφή: Βασική τεχνολογία ημιαγωγικών διατάξεων, σχέση δομής ενεργειακών ζωνών και ηλεκτροστατικών μεγεθών, περιοχή φορτίων χώρου σε θερμική ισορροπία και εξωτερική πόλωση, χωρητικότητα επαφής, I-V χαρακτηριστικές με ορθή και ανάστροφη πόλωση.
Τρανζίστορ MOS: Περιοχές φορτίων χώρου διατάξεων MOS, πυκνωτής MOS, τάση κατωφλίου, στατικές χαρακτηριστικές, αγωγιμότητα-διαγωγιμότητα, ισοδύναμο κύκλωμα, συχνότητα αποκοπής, φαινόμενο τάσης υποστρώματος, κατασκευή διάταξης MOS.
Υπομικρονικό τρανζίστορ MOS: Πειραματικές χαρακτηριστικές εισόδου-εξόδου, δευτερογενή φαινόμενα (διαμόρφωση του μήκους καναλιού, μείωση του φράγματος δυναμικού επαγώμενο από την τάση απαγωγού, επίδραση της γεωμετρίας στη τάση κατωφλίου), επίδραση του κάθετου ηλεκτρικού πεδίου στην ευκινησία, ταχύτητα κόρου, φαινόμενα θερμών φορέων, διάτρηση με "επιστροφή τάσης", τρανζίστορ LDD.
CMOS τεχνολογία: τρανζίστορ n- και p-τύπoυ φρέατος, φαινόμενο αναστολής λειτουργίας (παρασιτικό διπολικό τρανζίστορ).
Πειραματικός προσδιορισμός των παραμέτρων MOSFET: Μεθοδολογία, πειραματική εφαρμογή.
Μοντέλο FET για SPICE.
Λέξεις Κλειδιά
p-n επαφή, τρανσίστορ MOSFET, δευτερογενή φαινόμενα, CMOS, εξαγωγή παραμέτρων, μοντέλα SPICE