Ηλεκτρονική Διάθεση Μαθήματος
Περιεχόμενο Μαθήματος
Η σκέδαση, περίθλαση και απορρόφηση των ακτινοβολιών (π.χ. ακτίνες Χ από σύγχροτρον και νετρόνια) από την ύλη είναι θεμελιώδη εργαλεία στην επιστήμη των υλικών. Σε αυτούς τους μηχανισμούς στηρίζεται ένας αριθμός προηγμένων τεχνικών χαρακτηρισμού που παρέχουν ακριβείς πληροφορίες για την κρυσταλλική δομή (τοπική και μέση), τις μαγνητικές ιδιότητες, τη δυναμική του πλέγματος, τη σύσταση καθώς και για το δεσμικό περιβάλλον και τη ομοιογένεια της κατανομής στοιχείων στα υλικά. Αρχικά θα περιγραφούν οι βασικές ιδιότητες και οι τρόποι παραγωγής ακτίνων-Χ από σύγχροτρον και νετρονίων καθώς και οι κύριοι μηχανισμοί αλληλεπίδρασης τους (απορρόφηση, σκέδαση, περίθλαση, ανάκλαση) με την ύλη. Στη συνέχεια θα γίνει μια επισκόπηση των τεχνικών χαρακτηρισμού με έμφαση στη σκέδαση ακτίνων Χ και νετρονίων καθώς και στις φασματοσκοπίες απορρόφησης, φθορισμού και φωτοηλεκτρονίων ακτίνων Χ. Επίσης θα συζητηθούν συγκεκριμένα παραδείγματα εφαρμογής αυτών των τεχνικών σε στερεά, επιφάνειες, λεπτά υμένια, κατάλυση κλπ. Τέλος θα γίνει μια σύντομη περιγραφή των Large Scale Facilities ανά τον κόσμο (εγκαταστάσεις & προοπτικές).
Βιβλιογραφία μαθήματος (Εύδοξος)
- Σημειώσεις & Διαφάνειες, Μ. Κατσικίνη
- N. W. Ashcroft and N. D. Mermin: "Solid State Physics" Saunders College Publishing (1976).
- L. H. Schwartz, J. B. Cohen: "Diffraction From Materials" Springer-Verlag (1987). "Neutron and Synchrotron Radiation for Condensed Matter Studies" High European Research Course for Users of Large Experimental Systems, volumes 1, 2, 3. Springer-Verlag (1993).
- "Synchrotron Radiation Crystallography" Ph. Coppens, D. E. Cox, Academic Press 1992.
- “EXAFS : Basic principles & data analysis" B. K. Teo, Springer-Verlag (1986).
- "NEXAFS spectroscopy" J. Stoehr, Springer-Verlag (1996).
- "X-ray absorption" D. C. Koningsberger & R. Prins, John Wiley & Sons (1988).
- Προγράμματα Ανάλυσης Δεδομένων