Μέθοδοι Χαρακτηρισμού Υλικών
| Τίτλος | Μέθοδοι Χαρακτηρισμού Υλικών / Materials Characterization Methods |
| Κωδικός | Μ4Υ12 |
| Σχολή | Θετικών Επιστημών |
| Τμήμα | Χημείας |
| Κύκλος / Επίπεδο | 2ος / Μεταπτυχιακό |
| Περίοδος Διδασκαλίας | Χειμερινή |
| Κοινό | Όχι |
| Κατάσταση | Ενεργό |
| Course ID | 600016628 |
Πρόγραμμα Σπουδών: ΠΜΣ "Επιστήμη και Τεχνολογία Ηλεκτροχημικών Συστημάτων
Εγγεγραμμένοι φοιτητές: 5
| Κατεύθυνση | Τύπος Παρακολούθησης | Εξάμηνο | Έτος | ECTS |
|---|---|---|---|---|
| "Επιστήμη και Τεχνολογία Ηλεκτροχημικών Συστημάτων" | Υποχρεωτικό | 1 | 1 | 10 |
| Τίτλος | Μέθοδοι Χαρακτηρισμού Υλικών |
| Ακαδημαϊκό Έτος | 2020 – 2021 |
| Περίοδος Τάξης | Χειμερινή |
| Διδάσκοντες μέλη ΔΕΠ | |
| Διδάσκοντες άλλων Κατηγοριών | |
| Ώρες Εβδομαδιαία | 4 |
| Class ID | 600180730
|
Τύπος Μαθήματος 2011-2015
Εμβάθυνσης / Εμπέδωσης Γνώσεων
Τρόπος Παράδοσης
- Πρόσωπο με πρόσωπο
Ηλεκτρονική Διάθεση Μαθήματος
Μαθησιακά Αποτελέσματα
- Να κατανοούν τις βασικές αρχές των πλέον διαδεδομένων μικροσκοπικών και φασματοσκοπικών τεχνικών χαρακτηρισμού των υλικών.
- Να εφαρμόζουν τις τεχνικές σε συστήματα με ηλεκτροχημικές εφαρμογές.
Γενικές Ικανότητες
- Εφαρμογή της γνώσης στην πράξη
- Αναζήτηση, ανάλυση και σύνθεση δεδομένων και πληροφοριών, με τη χρήση και των απαραίτητων τεχνολογιών
Περιεχόμενο Μαθήματος
α) Μικροσκοπίες: Μικροσκοπίες σάρωσης με ακίδα (Μικροσκοπία Ατομικών Δυνάμεων (Αtomic Force Microscopy, AFM), Μικροσκοπία Σάρωσης Φαινομένου Σήραγγος (Scanning Tunneling Microscopy, STM), Μικροσκοπία Ηλεκτροχημικής Σάρωσης (Scanning Electrochemical Microscopy, SECM)). Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM).
β) Φασματοσκοπίες: Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων ακτίνων Χ (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS). Φασματοσκοπία ηλεκτρονίων Auger (Auger Electron Spectroscopy, AES). Φασματοσκοπία ενεργειακής διασποράς (Energy Dispersive Spectroscopy, EDS)
γ) Περίθλαση Ακτίνων Χ
δ) Αεριοχρωματογραφική μελέτη υλικών.
ε) Επίδειξη λήψης μετρήσεων.
Τύποι Εκπαιδευτικού Υλικού
- Σημειώσεις
- Διαφάνειες
Χρήση Τεχνολογιών Πληροφορίας και Επικοινωνιών
Περιγραφή
α) Μικροσκοπίες: Μικροσκοπίες σάρωσης με ακίδα (Μικροσκοπία Ατομικών Δυνάμεων (Αtomic Force Microscopy, AFM), Μικροσκοπία Σάρωσης Φαινομένου Σήραγγος (Scanning Tunneling Microscopy, STM), Μικροσκοπία Ηλεκτροχημικής Σάρωσης (Scanning Electrochemical Microscopy, SECM)). Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης (SEM).
β) Φασματοσκοπίες: Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων ακτίνων Χ (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS). Φασματοσκοπία ηλεκτρονίων Auger (Auger Electron Spectroscopy, AES). Φασματοσκοπία ενεργειακής διασποράς (Energy Dispersive Spectroscopy, EDS)
γ) Περίθλαση Ακτίνων Χ
δ) Αεριοχρωματογραφική μελέτη υλικών.
ε) Επίδειξη λήψης μετρήσεων
Οργάνωση Μαθήματος
| Δραστηριότητες | Φόρτος Εργασίας | ECTS | Ατομικά | Ομαδικά | Erasmus |
|---|---|---|---|---|---|
| Διαλέξεις | |||||
| Εξετάσεις | |||||
| Σύνολο |
Αξιολόγηση Φοιτητών
Μέθοδοι Αξιολόγησης Φοιτητών
- Γραπτή Εξέταση με Ερωτήσεις Εκτεταμένης Απάντησης (Διαμορφωτική, Συμπερασματική)
Τελευταία Επικαιροποίηση
31-03-2020
