ΚΡΥΣΤΑΛΛΟΔΟΜΗ ΚΑΙ ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ

Πληροφορίες Μαθήματος
ΤίτλοςΚΡΥΣΤΑΛΛΟΔΟΜΗ ΚΑΙ ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ / Crystallography and Applications
ΚωδικόςΣΥΕ204
ΣχολήΘετικών Επιστημών
ΤμήμαΦυσικής
Κύκλος / Επίπεδο1ος / Προπτυχιακό
Περίοδος ΔιδασκαλίαςΧειμερινή
Υπεύθυνος/ηΓεώργιος Βουρλιάς
ΚοινόΌχι
ΚατάστασηΕνεργό
Course ID40003028
Πληροφορίες Τάξης
ΤίτλοςΚΡΥΣΤΑΛΛΟΔΟΜΗ ΚΑΙ ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ
Ακαδημαϊκό Έτος2018 – 2019
Περίοδος ΤάξηςΧειμερινή
Διδάσκοντες μέλη ΔΕΠ
Ώρες Εβδομαδιαία3
Class ID
600132676
Τύπος Μαθήματος 2016-2020
  • Υποβάθρου
  • Γενικών Γνώσεων
Τύπος Μαθήματος 2011-2015
Γενικού Υποβάθρου
Τρόπος Παράδοσης
  • Πρόσωπο με πρόσωπο
Ηλεκτρονική Διάθεση Μαθήματος
Γλώσσα Διδασκαλίας
  • Ελληνικά (Διδασκαλία, Εξέταση)
Προαπαιτήσεις
Προαπαιτούμενα Μαθήματα
  • ΓΘΥ205 ΓΕΝΙΚΗ ΦΥΣΙΚΗ V (Νεώτερη Φυσική)
  • ΣΥΥ501 ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΟ ΔΟΜΗΣ ΤΩΝ ΥΛΙΚΩΝ
  • ΣΥΕ204 ΚΡΥΣΤΑΛΛΟΔΟΜΗ ΚΑΙ ΕΦΑΡΜΟΓΕΣ
Μαθησιακά Αποτελέσματα
Με την επιτυχή ολοκλήρωση του μαθήματος οι φοιτητές έχουν έρθει σε επαφή με τις βασικές αρχές της Κρυσταλλοδομής και δομής των υλικών
Γενικές Ικανότητες
  • Εφαρμογή της γνώσης στην πράξη
  • Αναζήτηση, ανάλυση και σύνθεση δεδομένων και πληροφοριών, με τη χρήση και των απαραίτητων τεχνολογιών
  • Αυτόνομη εργασία
Περιεχόμενο Μαθήματος
Εισαγωγή, πλέγμα, κυψελίδα, κρυσταλλικά Συστήματα, δείκτες Miller, αντίστροφο πλέγμα, εξίσωση Bragg, σφαίρα Ewald. Ακτινογραφική μελέτη μονοκρυστάλλων. Μέθοδοι Laue, στρεφομένου κρυστάλλου, Weissenberg, μεταπτώσεως, Δεικτοδότηση, προσδιορισμός κρυσταλλικών σταθερών. Ακτινογραφική μελέτη κρυσταλλικής σκόνης. Μέθοδοι Debye - Sherrer, Guinier. Αυτόματο περιθλασόμετρο σκόνης. Μέθοδος Bragg - Brendano. Επεξεργασία δεδομένων, διαχωρισμός φάσεων, δεικτοδότηση, προσδιορισμός κρυσταλλικών σταθερών. Χαρακτηρισμός υλικών, βάσεις δεδομένων, εφαρμογές. Ανάλυση του προφίλ διαγράμματος σκόνης και προσδιορισμός της κρυσταλλικής δομής. Μέθοδος Rietveld. Αυτόματο περιθλασίμετρο μονοκρυστάλλου τεσσάρων κύκλων. Συλλογή, επεξεργασία δεδομένων, στατιστική Wilson. Παράγοντας δομής, ηλεκτρονική πυκνότητα. Μέθοδοι προσδιορισμού της δομής μονοκρυστάλλου (έμμεσες, δοκιμής, άμεσες). Οι συναρτήσεις Fourier, Patterson στον προσδιορισμό της δομής. Βελτίωση των παραμέτρων της δομής. Γεωμετρία της κρυσταλλικής κυψελίδας.
Λέξεις Κλειδιά
Κρυσταλλογραφία, Μέθοδοι Ακτίνων Χ, Περίθλαση Ακτίνων Χ, δομή, παραγωγή ακτίνων Χ
Τύποι Εκπαιδευτικού Υλικού
  • Σημειώσεις
  • Διαφάνειες
Οργάνωση Μαθήματος
ΔραστηριότητεςΦόρτος ΕργασίαςECTSΑτομικάΟμαδικάErasmus
Διαλέξεις87✓
Συγγραφή εργασίας / εργασιών30✓
Εξετάσεις3
Σύνολο120
Αξιολόγηση Φοιτητών
Μέθοδοι Αξιολόγησης Φοιτητών
  • Γραπτή Εργασία (Διαμορφωτική)
  • Προφορική Εξέταση (Διαμορφωτική)
Βιβλιογραφία
Βιβλιογραφία μαθήματος (Εύδοξος)
Σημειώσεις
Επιπρόσθετη βιβλιογραφία για μελέτη
Elements of X-Ray Diffraction B.D. Cullity & S.R. Stock Prentice Hall, Upper Saddle River (2001) X-Ray Diffraction: A Practical Approach C. Suryanarayana & M. Grant Norton Plenum Press, New York (1998)
Τελευταία Επικαιροποίηση
24-06-2016